技術(shù)編號:40635921
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及一種材料的各向異性熱導(dǎo)率測量方法及系統(tǒng),尤其涉及一種小尺寸單晶樣品的各向異性熱導(dǎo)率測量方法及系統(tǒng)。背景技術(shù)、在現(xiàn)代材料科學(xué)中,各向異性熱導(dǎo)率的測量對于理解和優(yōu)化材料性能至關(guān)重要。許多小尺寸單晶材料,尤其是層狀氧化物,展現(xiàn)出顯著的各向異性特征,即其熱導(dǎo)率在不同方向上存在差異。這種各向異性不僅影響材料的熱管理性能,也對其在電子器件、熱電材料和其他高性能應(yīng)用中的表現(xiàn)產(chǎn)生重要影響。、在微電子和納米技術(shù)的迅速發(fā)展背景下,傳統(tǒng)熱導(dǎo)率測量方法在面對小尺寸單晶樣品時常常無法有效解決熱接觸不良、穩(wěn)定...
注意:該技術(shù)已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。