技術編號：40637769
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本技術涉及溫控，特別是涉及一種制冷系統(tǒng)。背景技術、隨著經(jīng)濟的發(fā)展和社會的進步，電子元器件在各個領域應用廣泛。電子元器件在投入使用之前，需要對其在各種環(huán)境溫度下的可靠性及穩(wěn)定性進行測試。測試設備一般包括制冷系統(tǒng)和加熱系統(tǒng)，制冷系統(tǒng)作為冷源，加熱系統(tǒng)作為熱源，通過熱源和冷源的冷熱對抗以對測試環(huán)境的溫度進行控制。、為了滿足低溫工況的測試要求，測試設備的蒸發(fā)器一般設置在電子膨脹閥節(jié)流后，此時，流動于蒸發(fā)器中的制冷劑為低壓低溫的狀態(tài)。而當測試設備需要在高溫工況下運動時，流道中低壓低溫的制冷劑會導致制冷...
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