技術(shù)編號(hào)：40642523
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及自動(dòng)測(cè)試裝置的接口裝置。背景技術(shù)、在存儲(chǔ)器、cpu(central?processing?unit)等各種半導(dǎo)體設(shè)備的檢查中使用自動(dòng)測(cè)試裝置(ate：automatic?test?equipment)。ate向作為測(cè)試對(duì)象的半導(dǎo)體設(shè)備(以下，稱為被測(cè)試設(shè)備(dut))供給測(cè)試信號(hào)，測(cè)定dut針對(duì)測(cè)試信號(hào)的響應(yīng)，判定dut的好壞或者確定不良部位。、圖是現(xiàn)有的ate的框圖。ate具備測(cè)試機(jī)(也稱為測(cè)試機(jī)主體)、測(cè)試頭、接口裝置和分選機(jī)(handler)。、測(cè)...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。