技術(shù)編號：40647494
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及貴金屬加工，特別是涉及超低磁化率、剩磁矩的檢測質(zhì)量及制備方法和應用。背景技術(shù)、引力波探測是世界科學界公認的難度最大的尖端科技之一，其基本原理是通過激光干涉測距系統(tǒng)來精確測量處于衛(wèi)星內(nèi)部的檢驗質(zhì)量之間皮米級的距離變化來探測引力波造成的時空扭曲。因此可以說，檢驗質(zhì)量是引力波探測系統(tǒng)中的關(guān)鍵部件。航天器運行時，檢驗質(zhì)量處在不斷變化的空間磁場及航天器自身產(chǎn)生的磁場中，檢驗質(zhì)量受到的磁噪聲是殘余加速度噪聲的主要來源之一，其大小取決于所處的磁場以及檢驗質(zhì)量的磁化率和剩磁矩。由于空間磁場不可控且低...
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