技術(shù)編號：40650613
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本申請要求基于年月日提交的韓國專利申請no.?--的優(yōu)先權(quán)的權(quán)益，其全部公開內(nèi)容被并入作為本說明書的一部分。本公開涉及一種高速電池缺陷檢查方法，并且更具體地涉及一種用于通過預(yù)測通過堆疊多個單式單體而形成的電池的劣化特性來在短時間內(nèi)確定電池缺陷的高速電池缺陷檢查方法。背景技術(shù)、在其中堆疊有多個單式單體的中型或大型電池的情況下，存在的問題在于內(nèi)部的一些單式單體呈現(xiàn)出低電壓缺陷現(xiàn)象（其中特定單式單體的電勢降低的現(xiàn)象）（其原因未知），以及其中所有單體的容量退化...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。