技術(shù)編號(hào)：40650651
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種用于對(duì)電子顯微鏡中的樣品的改進(jìn)的x射線分析的系統(tǒng)。背景技術(shù)、金屬材料的性質(zhì)根據(jù)溫度和機(jī)械應(yīng)力而變化。分析經(jīng)受變化的溫度時(shí)的這些材料有助于理解從沉淀到相變的現(xiàn)象，并因此允許冶金學(xué)家和材料科學(xué)家開發(fā)具有更好性質(zhì)的新材料。使用能量色散光譜儀(eds)的特征x射線發(fā)射的x射線分析可以用于電子顯微鏡(em)內(nèi)部的原位加熱分析，并且更具體地用于可以實(shí)時(shí)觀察如沉淀或相變的現(xiàn)象的動(dòng)態(tài)原位實(shí)驗(yàn)。、圖示出了用于在電子顯微鏡中對(duì)加熱樣品進(jìn)行x射線分析的系統(tǒng)的簡(jiǎn)化視圖。它與usb中...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。