技術(shù)編號(hào):40653755
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及電磁兼容輻射發(fā)射檢測(cè)領(lǐng)域,尤其涉及一種環(huán)形輻射發(fā)射測(cè)試裝置及測(cè)試方法。背景技術(shù)、輻射發(fā)射測(cè)試常規(guī)要求是在半電波暗室內(nèi)部,保證穩(wěn)定干凈的電磁環(huán)境,暗室內(nèi)部具有轉(zhuǎn)臺(tái)、天線支架等、測(cè)試系統(tǒng)放置于暗室外部。此種方式是樣品放在轉(zhuǎn)臺(tái)上,轉(zhuǎn)臺(tái)根據(jù)軟件控制旋轉(zhuǎn),找到樣品的最大輻射騷擾的角度。由于暗室的尺寸、特殊電壓電流、專業(yè)負(fù)載等原因,暗室無(wú)法滿足一些大型產(chǎn)品的測(cè)試。、隨著各個(gè)行業(yè)的快速發(fā)展,市場(chǎng)上出現(xiàn)了各種各樣的大型產(chǎn)品,例如大型商業(yè)空調(diào)、大型醫(yī)療設(shè)備、牽引系統(tǒng)等。此類設(shè)備含有以下特點(diǎn):尺寸大、...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。