技術(shù)編號：40656008
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及光學(xué)元件損傷預(yù)測，特別是一種基于深度學(xué)習(xí)決策樹算法的熔石英元件損傷增長特性預(yù)測方法。背景技術(shù)、熔石英作為一種性能優(yōu)異的光學(xué)材料，廣泛使用在各類激光器中，特別是紫外光波段。然而由于紫外波段光子能量提升，熔石英光學(xué)前、后表面都會發(fā)生初始損傷，大量初始損傷點(diǎn)在后續(xù)激光輻照下發(fā)生損傷增長現(xiàn)象。、熔石英的初始損傷特性和損傷增長特性是兩個(gè)主要研究關(guān)注內(nèi)容，其中實(shí)現(xiàn)熔石英元件的損傷增長特性精確預(yù)測對激光裝置穩(wěn)定運(yùn)行有重要的意義。目前，熔石英元件表面的損傷增長特性受到多種因素的影響，損傷增長特性無...
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