技術(shù)編號(hào)：40656627
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本申請(qǐng)屬于芯片測(cè)試，特別是涉及一種芯片測(cè)試中的線路檢測(cè)方法及裝置。背景技術(shù)、為提高芯片測(cè)試效率，多占位的芯片測(cè)試方式已得到廣泛應(yīng)用。、在當(dāng)前的多站位測(cè)試過程中，測(cè)試儀和測(cè)試板之間需要連接大量dio(數(shù)字輸入/輸出)線路。由于線路數(shù)量眾多，人工接線時(shí)容易出現(xiàn)連接錯(cuò)誤，這可能導(dǎo)致測(cè)試失效，影響芯片測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。、因此，如何設(shè)計(jì)出一種檢定芯片測(cè)試中線路連接正確性的方法成為目前亟待解決的問題。技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路、本申請(qǐng)的目的在于提供一種芯片測(cè)試中的線路檢測(cè)方法及裝置，能夠滿足檢測(cè)芯片測(cè)試中線路連接...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。