技術(shù)編號:5060122
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實用新型屬于一種半導(dǎo)體集成電路測試分選設(shè)備制造,尤其涉及一種集成電路分選機(jī),亦可適用于SOP、SSOP, TSOP, SOJ等封裝集成電路測試分選。背景技術(shù)目前,集成電路測試封裝使用的分選機(jī)有多種多樣,有手動測試和機(jī)臺自動測試, 用機(jī)臺自動測試又有重力下滑式和揀取放置式這兩種之分,相應(yīng)測試方式分別采用開爾文測試夾和測試插座,這些集成電路成品測試分選機(jī)各有特點,根據(jù)集成電路芯片包裝所用塑料管、托盤或散裝方式,選用相應(yīng)設(shè)備,能滿足一定的使用要求。然而目前重力...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。