技術(shù)編號(hào):5829167
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及精密電子測(cè)試,尤其涉及一種高速電子溫度特性 測(cè)試裝置。背景技術(shù)目前,公知公用的電子元器件的溫度特性測(cè)試是通過溫槽來進(jìn)行。必須事 先準(zhǔn)備與要測(cè)溫度相同個(gè)數(shù)的溫槽,將被測(cè)電子元器件插入測(cè)試板后投入到設(shè)定為第一個(gè)測(cè)試溫度的溫槽中,測(cè)試完成后,由作業(yè)人員將測(cè)試板取出再投入到 設(shè)定為第二個(gè)測(cè)試溫度的溫槽中進(jìn)行測(cè)試,重復(fù)以上步驟直至最后一個(gè)測(cè)試溫 度的測(cè)試完成。此種測(cè)試方法首先由于經(jīng)常需要作業(yè)人員的介入導(dǎo)致測(cè)試速度慢,產(chǎn)品生產(chǎn)率低;其次由于溫槽體積龐大,...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。