技術(shù)編號(hào)：5833237
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種放射性核素活度絕對(duì)測(cè)量領(lǐng)域，特別涉及一種小型4 n e正 比計(jì)數(shù)器。背景技術(shù)目前，禁核試條件下的相關(guān)實(shí)驗(yàn)研究急需提供短壽命核素核衰變參數(shù)的準(zhǔn) 確數(shù)據(jù)，需要建立相應(yīng)的測(cè)量裝置，首先必須解決在空間比較狹窄的條件下探測(cè)器的設(shè)計(jì)，現(xiàn)有技術(shù)中采用面壘型的半導(dǎo)體探測(cè)器作為e探測(cè)器或兩塊薄塑料閃 爍體作為e探測(cè)器，這兩種探測(cè)器不適合測(cè)vyns薄膜源而且其e探測(cè)效率較低， 約為70 80%，不能很好地滿足放射性活度絕對(duì)測(cè)量的要求。上世紀(jì)九十年代4h P正比計(jì)...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。