技術(shù)編號(hào)：5837913
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。優(yōu)先權(quán)本申請(qǐng)請(qǐng)求享有2000年10月10日提交的臨時(shí)申請(qǐng)No.60/238,518和2001年10月9日提交的美國(guó)專利申請(qǐng)No.＿＿的優(yōu)先權(quán)。臨時(shí)申請(qǐng)No.60/238,518和美國(guó)非臨時(shí)申請(qǐng)No.＿＿的發(fā)明公開內(nèi)容被引用作為本申請(qǐng)的參考。在掃描探針方法中，微米尺寸量級(jí)的探針用于詢問載體上分子的形貌特征或其它特征。在一個(gè)變型中，可使化學(xué)的、生物分子的或改進(jìn)的微粒附著在探針的頂端，并且當(dāng)對(duì)表面或表面上的樣品進(jìn)行微粒掃描時(shí)可以進(jìn)行極其微細(xì)的力的測(cè)量。通過這些力...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。