技術(shù)編號(hào)：5838430
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及真空紫外(vuv)輻射和vuv波段原子發(fā)射光譜的檢測裝置，是屬于光譜分析領(lǐng)域的一種檢測儀器。技術(shù)背景要了解聚變等離子體中雜質(zhì)成分的行為規(guī)律，最基本的方法是通過發(fā)射 光譜中各種核素的特征譜線來研究它們。對(duì)于典型的磁約束核聚變實(shí)驗(yàn)裝置來說，其等離子體的放電條件大致是電子密度1019-1020 m-3，電子溫度0.1-10 keV。這時(shí)雜質(zhì)核素(離子)發(fā)出的譜線大多是位于1-200 nm波長范圍內(nèi)的 真空紫外光。因此，在保證以下條件的前提下檢測這一范圍...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。