技術(shù)編號：5843926
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及一種探針卡，特別是涉及一種CIS電路測試探針卡。 背景技術(shù)傳統(tǒng)CIS (CMOS Image Sensor)測試探針卡存在一些缺點，特別是當(dāng)晶片尺寸逐漸 減小及/或所需要的測試環(huán)境漸趨嚴格時。圖IA是顯示一傳統(tǒng)CIS晶片的示意圖。圖IB是顯示一傳統(tǒng)CIS測試探針卡的示 意圖。其分別顯示了一傳統(tǒng)CIS晶片以及一傳統(tǒng)CIS測試探針卡的應(yīng)用。如圖IA所示，每 一個CIS晶片10具有一感光區(qū)域11與位于該感光區(qū)域11周圍的至少一焊墊12。如圖IB 所示，...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
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