技術(shù)編號：5844426
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及一種航天器光學(xué)表面的非金屬材料出氣污染的原位監(jiān)測裝置，屬于航空航天。背景技術(shù)近年來，航天器分子污染對衛(wèi)星光學(xué)載荷系統(tǒng)的影響受到多方關(guān)注。由于衛(wèi)星的 長壽命、有效載荷的高性能，例如采用工作溫度越來越低的傳感器，采用大功率的電子器件 等，對分子污染控制程度隨之提高。材料在真空環(huán)境下放氣產(chǎn)生的分子污染是污染的主要 來源之一，衛(wèi)星敏感光學(xué)表面性能退化是放氣分子污染造成的主要效應(yīng)，所以必須對光學(xué) 表面分子污染進行原位監(jiān)測和控制。分子污染沉積造成的光學(xué)性能退...
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