技術(shù)編號(hào)：5853983
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及一種基于"坪區(qū)"毛細(xì)管X射線會(huì)聚透鏡的微束X射線分析設(shè)備。 "坪區(qū)"毛細(xì)管X射線會(huì)聚透鏡是利用多毛細(xì)管將發(fā)散的X射線會(huì)聚為帶有"坪區(qū)"的微焦 斑，"坪區(qū)"處x射線強(qiáng)度分布均勻度(強(qiáng)度最大值和最小值之差除以強(qiáng)度平均值)高，且 具有較高的功率密度增益(單位面積上強(qiáng)度)，基于"坪區(qū)"毛細(xì)管x射線會(huì)聚透鏡的微束 x射線分析設(shè)備特別適用于對(duì)大氣顆粒物等微小顆粒物進(jìn)行單顆粒分析。背景技術(shù)隨著分析技術(shù)的發(fā)展，人們對(duì)大氣顆粒物的研究已從早期的總體顆粒物樣品分...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。