技術(shù)編號(hào):5856129
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型屬于一種恒溫晶體振蕩器的老化測(cè)試架,具體地說(shuō)是一種恒溫晶體振蕩器的老化測(cè)試架,可以將恒溫晶體振蕩器加以老化鍛煉、質(zhì)量檢測(cè)、去劣存優(yōu)的測(cè)試設(shè)備或測(cè)試儀器,用來(lái)放置、支撐它們的架子。背景技術(shù)通常,晶體振蕩器的老化測(cè)試架,尤其是實(shí)驗(yàn)室中使用的晶體振蕩器的老化測(cè)試架,由于設(shè)計(jì)不合理、結(jié)構(gòu)不到位等原因,使得晶體振蕩器的老化測(cè)試架不能適應(yīng)大批量、產(chǎn)業(yè)化生產(chǎn)的要求;實(shí)驗(yàn)室中,由于晶體振蕩器的數(shù)量少,對(duì)老化測(cè)試架要求不高,其架子的層次數(shù)量少、造價(jià)高,每層擱板的角...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。