技術(shù)編號(hào)：5861989
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本申請涉及測試系統(tǒng)的時(shí)鐘，用于產(chǎn)生測試模式和時(shí)鐘信號(hào)，供測試電路，如測試集成電路裝置之用。背景技術(shù) 測試高速集成電路裝置(即待測試裝置(DUT))，如微處理器，所使用的測試系統(tǒng)，由于必須產(chǎn)生精確的時(shí)鐘信號(hào)和測試模式信號(hào)，變得越來越復(fù)雜。時(shí)鐘信號(hào)是提供給DUT時(shí)鐘輸入引腳的，并用于運(yùn)行該DUT，而測試模式則用于驅(qū)動(dòng)并選通該DUT的數(shù)據(jù)引腳。測試模式信號(hào)(亦稱“事件序列”)一般包括事件模式，諸如二進(jìn)制值(各個(gè)1和各個(gè)0)，以及與每一事件的上升和下降緣的出現(xiàn)相關(guān)...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。