技術(shù)編號(hào)：5868995
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種測(cè)量裝置及測(cè)量方法，特別涉及一種自帶基準(zhǔn)的測(cè)量?jī)牲c(diǎn)相對(duì)位移的測(cè)量裝置及實(shí)時(shí)測(cè)量方法。背景技術(shù)由于目前國(guó)內(nèi)所涉及到實(shí)時(shí)位移測(cè)量方面的裝置和方法，在更換設(shè)備后基準(zhǔn)會(huì)發(fā)生變化，而且現(xiàn)有的測(cè)量方法有些過于復(fù)雜且測(cè)量精度不高，不能精確的測(cè)量?jī)牲c(diǎn)的相對(duì)位移，也不能進(jìn)行準(zhǔn)確的實(shí)時(shí)采集。發(fā)明內(nèi)容 本發(fā)明為了解決現(xiàn)有位移測(cè)量方法所存在的復(fù)雜且測(cè)量精度低的問題，提高測(cè)量設(shè)備在使用中的可靠性和安全性，提供了一種基于光學(xué)投影測(cè)量原理的高精度，實(shí)時(shí)測(cè)量裝置和方法。 為...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。