技術(shù)編號：5870652
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明通常涉及自動測試設(shè)備，并且更具體地，涉及自動測試設(shè)備中的時間測量。背景技術(shù) 通常在半導(dǎo)體芯片制造過程的多個階段中使用自動測試設(shè)備(ATE)來測試該芯片。為了確定芯片是否正確地運行，了解芯片響應(yīng)不同的激勵信號而產(chǎn)生的信號值是重要的。除了該值以外，了解這些信號是否發(fā)生于所期望的時間常常是重要的。因此，ATE傳統(tǒng)地包括定時脈沖發(fā)生電路，該電路控制激勵信號施加的時間和執(zhí)行測量的時間。傳統(tǒng)的數(shù)字邏輯芯片包括由主時鐘信號同步的電路。在測試數(shù)字邏輯芯片中，時間常常...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。