技術(shù)編號：5882668
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及相變材料壽命的測量技術(shù)，尤其涉及一種經(jīng)歷多次熔凍實驗后，根據(jù)相變材料在冷凝過程中溫度隨時間的變化曲線來測定相變材料壽命的方法及裝置，國際專利主分類號擬為Int.C17.G01N 25/06。對于相變材料壽命的測量，目前還沒有統(tǒng)一的標(biāo)準(zhǔn)。通常的方法是考察多次熔凍實驗后，相變材料熔點變化大小和相變潛熱衰變多少來判斷其壽命。熔點的測量方法通常有兩種步冷曲線法和熔點測定儀測定法。相變熱的測定方法一般有三種常規(guī)卡計法、差熱分析法(DTA)和差示掃描量熱法(...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。