技術編號：5885321
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明屬于集成電路測試領域，具體涉及一種可測試性設計的功能測試向量的產生和驗證。背景技術目前，通常對于集成電路的測試，在ATE上進行功能測試時，需要提供功能測試向量，現(xiàn)有技術是采用功能仿真時生成的VCD文件，通過一定的工具進行格式轉換和手動處理，生成ATE所需的測試向量。由于VCD文件是基于事件記錄的，對于仿真過程中信號的任何一次翻轉都會被記錄到VCD文件中，因此仿真過程中的一些毛刺也會被記錄下來。而 ATE受測試周期長短的限制，測試向量中是不允許這些毛刺...
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