技術(shù)編號(hào)：5885540
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種發(fā)光二極管(Light Emitting Diode ；以下簡稱“LED”)檢測(cè)方法，特別涉及一種模擬LED光源混光狀態(tài)的檢測(cè)方法，是利用軟件方面的改進(jìn)模擬多個(gè)LED 單元出光通過擴(kuò)散片后所展現(xiàn)的混光狀態(tài)。背景技術(shù)隨著發(fā)光二極管(Light Emitting Diode ；以下簡稱“LED”)技術(shù)成熟發(fā)展且價(jià)格持續(xù)下降，以LED取代冷陰極管作為大尺寸面板的背光源的趨勢(shì)勢(shì)必逐漸成型。在實(shí)際應(yīng)用上，由于LED屬于點(diǎn)狀光源，作為背光源使用時(shí)常會(huì)以多...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。