技術(shù)編號(hào)：5906052
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶(hù)請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型屬于半導(dǎo)體測(cè)試，特別涉及一種用于晶體管參數(shù)測(cè)試的半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)，并可以把該測(cè)試系統(tǒng)推廣到其它類(lèi)型半導(dǎo)體器件的參數(shù)測(cè)試中去。背景技術(shù)目前，針對(duì)半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試有各種各樣的儀器，但基本都是分立的，即每臺(tái)儀器只能實(shí)現(xiàn)一個(gè)或者為數(shù)不多的幾個(gè)參數(shù)的測(cè)試，比如測(cè)伏安特性曲線(xiàn)需要伏安特性測(cè)試儀， 測(cè)電容-電壓特性曲線(xiàn)需要電容-電壓測(cè)試儀；并且，對(duì)不同類(lèi)型的半導(dǎo)體器件需要不同的測(cè)試儀器，比如三極管測(cè)試儀器與二極管測(cè)試儀器是不同的；而且，國(guó)內(nèi)生產(chǎn)的測(cè)試儀器基本上...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專(zhuān)利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專(zhuān)利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。