技術(shù)編號：5909189
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明屬于微波遙感及探測，更具體地，涉及ー種綜合孔徑輻射計圖像反演方法。背景技術(shù)綜合孔徑輻射計(SAIR)利用多個離散的小天線合成較大的實孔徑，采用稀疏陣列排布，大大減少了天線的質(zhì)量和體積，解決了分辨率與孔徑尺寸之間的固有矛盾?，F(xiàn)有的綜合孔徑反演方法主要通過利用數(shù)學(xué)的方法或者綜合孔徑系統(tǒng)自身的物理特性約束反問題數(shù)值解的不穩(wěn)定性。SAIR圖像反演問題屬于模型選取問題，傳統(tǒng)的正則化反演方法是以正則化參數(shù)作為構(gòu)建不同模型的模型參數(shù)，雖然它們已取得較佳的反演結(jié)果，...
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