技術(shù)編號(hào):5912645
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及集成電路,具體地說涉及JTAG接口。 背景技術(shù)JTAG(JointTestActionGroup ;聯(lián)合測(cè)試行動(dòng)小組)接口是由IEEE標(biāo)準(zhǔn)所定義的一組接口,當(dāng)前大部分的芯片都支持該協(xié)議用于芯片的測(cè)試,包括對(duì)芯片存儲(chǔ)器的訪問,對(duì)可配置電路進(jìn)行配置等功能。JTAG的基本原理是在器件內(nèi)部定義一個(gè)TAP (Test Access Port ;測(cè)試訪問口)通過專用的JTAG測(cè)試工具對(duì)進(jìn)行內(nèi)部節(jié)點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試?,F(xiàn)在,JTAG接口還常用于實(shí)現(xiàn)ISPan-Sys...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。