技術(shù)編號：5914177
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實用新型涉及一種可有效增加電子基板電性探測精度的改進的探針探頭設(shè)計。 背景技術(shù)目前為了降低電子零件的不良率，提升電子產(chǎn)品的可靠性，對于晶圓上的積體電路或電子基板上的線路，都會進行偵測，以保證其良用率。常見對于電子基板的電性探測，是于電子基板的線路上設(shè)置相對兩電極測試點， 通過探針對預(yù)設(shè)的測試點進行接觸，由其導(dǎo)通的狀況，而可偵測其電性參數(shù)，如電阻、導(dǎo)通率、電容值或電感值等。然而，隨著科技的不斷研發(fā)，產(chǎn)品是越來越精小，電子基板也隨之越形精密而小巧，此時該探針...
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