技術(shù)編號(hào)：5914309
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型系有關(guān)于一種位置及深度的檢出裝置法，特別是有關(guān)于一種光學(xué)式位置及深度的檢出裝置。背景技術(shù)現(xiàn)今量測(cè)一物體表面的曲率的方式有許多種，舉例來(lái)說(shuō)，有投射迭紋法、干涉法、 像差法以及激光掃描三角定位法；其中迭紋量測(cè)技術(shù)一般采用穿透式或斜向反射式以形成迭紋，雖具有低成本、系統(tǒng)架構(gòu)簡(jiǎn)單與穩(wěn)定性高的優(yōu)點(diǎn)，但穿透式量測(cè)架構(gòu)只適用于透明物體表面曲率的量測(cè)，并無(wú)法運(yùn)用至不具透光性的物體表面的曲率量測(cè)。而斜向反射式則存在理論計(jì)算復(fù)雜的缺點(diǎn)，并且受限于反射影像的強(qiáng)度較弱，...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。