技術(shù)編號：5916697
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實用新型涉及一種光學(xué)元件面形偏差測試系統(tǒng)，尤其是指一種能夠測試雙折射晶體加工而成的光學(xué)元件的面形偏差的測試系統(tǒng)。本實用新型廣泛適用于要求測試雙折射晶體光學(xué)元件面形偏差的各個領(lǐng)域，尤其是適用于大型企業(yè)對批量雙折射晶體加工而成的光學(xué)元件的面形偏差的測試，成本低，速度快。背景技術(shù)目前，通信、儀器、測試等領(lǐng)域中越來越多的產(chǎn)品內(nèi)部都包含有光學(xué)元件，特別是使用雙折射晶體加工的光學(xué)元件，而光學(xué)元件的表面加工質(zhì)量尤其是光學(xué)元件的面形偏差不僅直接影響光學(xué)元件的使用性能，而...
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