技術(shù)編號：5925478
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及探測材料中缺陷的方法和裝置。具體地說，本發(fā)明涉及探測孔、瑕玷、邊沿缺陷和其它相關(guān)缺陷以及測量工業(yè)片材的特征的方法。更具體地說，本發(fā)明涉及用來在連續(xù)生產(chǎn)如鋼、鋁、紙張、箔和塑料等產(chǎn)品時對產(chǎn)品進(jìn)行探傷和測量的工業(yè)光學(xué)系統(tǒng)。背景技術(shù)有很多光學(xué)方法來探測工業(yè)片材中的孔或瑕玷等光學(xué)可見缺陷。這些幅面或條帶材料的制造商使用光學(xué)探傷和測量系統(tǒng)在生產(chǎn)線上對材料的生產(chǎn)過程進(jìn)行控制，從而提高產(chǎn)量，這包括改進(jìn)質(zhì)量、降低廢品率和減少機(jī)器的停產(chǎn)時間。這里所說的光學(xué)測量系統(tǒng)...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。