技術(shù)編號:5926648
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本實用新型涉及一種質(zhì)量檢測設(shè)備,尤其涉及一種硅片及硅太陽電池片缺陷檢測直O(jiān)背景技術(shù)硅片及硅太陽電池片可能存在材料本身的缺陷、結(jié)晶缺陷、碎片、材料污染等故障,這些故障在后繼的制造過程或使用中,會使太陽電池的性能劣化,所以需要在前期予以檢測。目前,太陽電池生產(chǎn)線上,硅片及硅太陽電池片的缺陷檢測手段大多是依靠人工目視的檢測方法,漏檢率和誤差率非常高,影響了太陽電池生產(chǎn)的質(zhì)量和進度。因此,無接觸式的動態(tài)監(jiān)測規(guī)模生產(chǎn)中硅片及硅太陽電池片缺陷故障的狀況,在串焊和層壓之...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。