技術(shù)編號(hào)：5928272
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種具有測試接口的集成電路設(shè)備，一種測試具有這種設(shè)備的電子系統(tǒng)和包含這種設(shè)備的電子裝置的方法。集成電路設(shè)備被越來越多地配備測試接口，這種測試接口允許設(shè)備進(jìn)入可以應(yīng)用測試信號(hào)的測試狀態(tài)，并且可以在受控的條件下測量測試結(jié)果。例如，一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)測試接口是IEEE STD 1149.1標(biāo)準(zhǔn)定義的接口。這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定通過集成電路設(shè)備的移位寄存器結(jié)構(gòu)應(yīng)用和收集測試數(shù)據(jù)。測試輸入數(shù)據(jù)通過移位寄存器結(jié)構(gòu)串行地移入設(shè)備，測試結(jié)果數(shù)據(jù)通過移位寄存器結(jié)構(gòu)移出設(shè)備。該設(shè)備被串...
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