技術(shù)編號(hào)：5933536
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及一種測試裝置，尤其是一種軸向半導(dǎo)體器熱阻測試接口。背景技術(shù)目前，隨著產(chǎn)品質(zhì)量等級(jí)的不斷提高、與國際接軌的日趨緊密，產(chǎn)品參數(shù)的日趨規(guī)范，軸向二極管同樣要求提供熱阻參數(shù)；一方面，熱阻參數(shù)對(duì)于指導(dǎo)用戶正確使用器件非常重要，另一方面，考核產(chǎn)品可靠性的“穩(wěn)態(tài)工作壽命試驗(yàn)”必須按GJB33A的要求，也就是在規(guī)定的額定功率、規(guī)定的最高結(jié)溫老化規(guī)定的時(shí)間，然后下機(jī)測試，器件的參數(shù)及參數(shù)變化要符合要求，因此也必須要測試出每支器件的熱阻才能推算出結(jié)溫，只有這樣“...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。