技術(shù)編號：5937797
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及電場計測裝置，尤其是涉及在電子設(shè)備等的放射電磁波噪聲測定、電波暗室等的電磁波測定設(shè)備評價、天線評價等電磁場計測領(lǐng)域用的模擬光傳送技術(shù)等中利用的電場計測裝置。背景技術(shù)放射電磁波噪聲等的測定在利用電波暗室等設(shè)備而抑制了測定對象外的電磁波的測定環(huán)境下進行。因此由暗室內(nèi)的接收天線接收到的信號向相鄰的測定室傳送，利用設(shè)置于此的測定器進行計測。近年來，伴隨著電子設(shè)備的高速化而電磁波噪聲發(fā)生高頻化，需要在超過1GHz、有時超過IOGHz的頻率下進行評價。本申請...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。