技術(shù)編號：5942122
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本公開總的來說涉及集成電路測試，更具體地，涉及探針卡。背景技術(shù)許多集成電路(IC)器件具有更大的引腳數(shù)用于更加先進的應用。許多傳統(tǒng)IC以及3維(3D)或2. IC具有較大數(shù)量的引腳。對于測試具有大引腳數(shù)的IC來說，測試器引腳數(shù)限制約束了 IC的測試。此外，對于IC測試的定制探針卡可能會非常昂貴。如果測試器引腳數(shù)小于被測試IC的引腳數(shù)，則需要使用多個探針卡多次插入用于測試的IC晶圓，這增加了測試時間和成本。發(fā)明內(nèi)容為了解決現(xiàn)有技術(shù)中所存在的缺陷，根據(jù)本發(fā)明...
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