技術(shù)編號(hào)：5942266
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種晶粒檢視機(jī)臺(tái)，特別是涉及ー種分檢發(fā)光二極管晶粒(LED CHIP)用的具有多種波域檢索光源的晶粒檢視機(jī)臺(tái)。背景技術(shù)晶粒檢視機(jī)臺(tái)是用于分檢貼覆在膠膜100上并分割成多個(gè)發(fā)光二極管晶粒200的晶圓300的器具，其作用在于預(yù)檢出異常的發(fā)光二極管晶粒200，避免再對(duì)這些質(zhì)量不合乎預(yù)設(shè)規(guī)格的發(fā)光二極管晶粒200進(jìn)行后續(xù)エ藝，而可以提高整體產(chǎn)能、良率，進(jìn)ー步降低生產(chǎn)成本。 參閱圖1，現(xiàn)有的晶粒檢視機(jī)臺(tái)包含一個(gè)承置平臺(tái)11，和一個(gè)檢索光源裝置12，該承置平...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。