技術(shù)編號(hào)：5943276
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及光程測(cè)量領(lǐng)域，尤其涉及一種測(cè)量光程的方法和系統(tǒng)。背景技術(shù)光程測(cè)量對(duì)于科學(xué)研究及工業(yè)生產(chǎn)來說都是一項(xiàng)重要的技術(shù)。近些年由于科學(xué)技術(shù)的不斷發(fā)展，對(duì)光程測(cè)量也提出了越來越高的要求，如何快速、準(zhǔn)確的測(cè)量光程已成為迫切需要解決的問題。目前光程測(cè)量的主要方法是發(fā)射一個(gè)光信號(hào)到目標(biāo)上，處理反射、透射或散射的信號(hào)算出光程大小。已有的光程測(cè)量法主要包括非干涉測(cè)量法和干涉測(cè)量法。非干涉測(cè)量法也稱為飛行時(shí)間測(cè)量法，它的基本原理是測(cè)量發(fā)射到目標(biāo)上的光信號(hào)與被目標(biāo)反射回來...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。