技術(shù)編號(hào)：5967080
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及多通道電控雙折射液晶衰減波紋測(cè)試系統(tǒng)。本發(fā)明可以準(zhǔn)確地測(cè)試出 多通道電控雙折液晶的衰減波紋數(shù)值,進(jìn)而判定液晶rubbing mark的工藝水平,能夠廣泛 適用于要求檢測(cè)多通道電控雙折射液晶的各個(gè)領(lǐng)域，尤其是適用于大型企業(yè)和科研機(jī)構(gòu)對(duì) 多通道電控雙折射液晶衰減波紋進(jìn)行測(cè)試，成本低、速度快。背景技術(shù)近些年來，多通道電控雙折射液晶的出現(xiàn)對(duì)科學(xué)技術(shù)的發(fā)展和工業(yè)生產(chǎn)技術(shù)的革 新影響日趨明顯。電控雙折射液晶不但可以應(yīng)用到液晶顯示LCD領(lǐng)域，尤其投影放大的大 ...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。