技術(shù)編號(hào)：5999865
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種使用測(cè)試設(shè)備測(cè)試電路板的方法；更具體地，本發(fā)明涉及一種以連續(xù)性量測(cè)針對(duì)斷路與短路測(cè)試未組裝的電路板的方法。背景技術(shù)“連續(xù)性量測(cè)” 一詞中所述的量測(cè)是指藉由使兩個(gè)接觸點(diǎn)接觸，并施加一量測(cè)電流或量測(cè)電壓，接著量測(cè)所得電壓或所得電流來量測(cè)一個(gè)或多個(gè)導(dǎo)體路徑的兩個(gè)接觸點(diǎn)間的電阻。導(dǎo)體路徑的接觸點(diǎn)后續(xù)稱為電路板測(cè)試點(diǎn)。導(dǎo)體路徑中的斷路是藉由使導(dǎo)體路徑在兩個(gè)電路板測(cè)試點(diǎn)接觸，并檢測(cè)預(yù)定的最小電阻來檢測(cè)。兩個(gè)鄰接的導(dǎo)體路徑間的短路是藉由在所有情況下接觸兩個(gè)...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。