技術(shù)編號：6002842
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明主要目的是用于同時檢測和/或量化單個樣品中的不同分析物，或用于同時檢測和/或量化不同樣品中的單個分析物的系統(tǒng)和方法。背景技術(shù)已知阻抗測量使得能夠檢測用于執(zhí)行測量的電極的特性和化學(xué)組成以及其表面和其間介質(zhì)的極小變化。這允許記錄現(xiàn)象，如電極表面上抗體-抗原復(fù)合物的形成(Bataillard, P.等人，Anal. Chem, 1988，60，2374)。第一系統(tǒng)不能在所分析的樣品中痕量水平檢測微量甚至更低的組分。為了增加技術(shù)的靈敏度，也為了小型化器件，開...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。