技術(shù)編號:6004137
提示:您尚未登錄,請點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及過零檢測,特別涉及一種過零檢測電路和使用該過零檢測電路的裝置及暖風(fēng)機(jī)。背景技術(shù)現(xiàn)有的過零檢測電路用于晶閘管斬波控制、控制負(fù)載(動力機(jī))轉(zhuǎn)速或控制負(fù)載功率的大小等作用,因此,當(dāng)MCU(Micrc) Control Unit,微控制器或單片機(jī))與多個(gè)電路或負(fù)載連接時(shí),就需要通過多個(gè)MCU的I/O 口與負(fù)載電路連接,如圖1、圖2所示,過零檢測電路和負(fù)載(電動機(jī))分別與MCU的不同I/O 口連接,而MCU的1/0(輸入/輸出)口數(shù)量有限,如果每一個(gè)I/O...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。