技術(shù)編號：6007895
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及到中子散射領(lǐng)域的中子光路的調(diào)整機構(gòu)，尤其涉及到水平樣品幾何中子反射譜儀(Neutron reflecto meter-horizontal sample geometry)的中子光路的調(diào)整機構(gòu)。背景技術(shù)中子反射是80年代初中期發(fā)展起來的中子散射的一個分支。在過去的二十年，中子反射技術(shù)已經(jīng)成為探測0. Inm IOOnm范圍內(nèi)表面和界面結(jié)構(gòu)的一種強有力的手段，其應(yīng)用囊括了液體表面和固體薄膜，比如液晶表面、聚合物薄膜、生物膜和磁性膜等等。中子反射技術(shù)...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。