技術(shù)編號：6008851
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及，并且更具體而言，涉及包括具有冗余配置的測試電路的自診斷系統(tǒng)以及用于判斷具有冗余配置的測試電路的方法。背景技術(shù)近年來，已經(jīng)積極地開發(fā)了內(nèi)建自測試(BIST)電路，其中將用于實施LSI (大規(guī)模集成電路)測試的LSI測試器功能安裝到芯片中。與其中將LSI測試器安裝在芯片外部的情況相比較，使用BIST電路使得減少了 LSI測試的時間和成本。日本未經(jīng)審查的專利申請公布No. 2003-068865公開了一種自診斷裝置的配置。 自診斷裝置包括用于執(zhí)行半導(dǎo)...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。