技術(shù)編號：6015977
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明關(guān)于一種用于測試、鉆孔、和修整印刷電路板以及集成電路基底的對準(zhǔn)設(shè)備，特別關(guān)于一種改良的對準(zhǔn)設(shè)備，其使設(shè)備的一個旋轉(zhuǎn)定位用機(jī)構(gòu)(θ平臺)不受平移工件定位機(jī)構(gòu)(X-Y平臺)的影響，反之亦然。背景技術(shù) 例如是印刷電路板以及集成電路的電子電路的制造是典型地涉及針對在形成于一基底上的電路圖案陣列中的每一電路進(jìn)行檢查和測試。電路的校準(zhǔn)可包括在調(diào)整電路的電子特性的激光修整操作期間的針探以及電路部件的電子特性的測量。為了修正測試結(jié)果，探針卡的測試探針的尖端必須被正確...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。