技術編號：6018275
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及離子遷移率譜儀，是一種離子遷移率譜儀半透膜預富集進樣 方法及裝置。背景技術離子遷移率譜技術是利用氣相離子在弱電場中遷移率的不同來檢測物質的方法， 其原理與飛行時間質譜相似，主要的區(qū)別是離子遷移率譜技術中離子的分離是在大氣壓或 接近大氣壓的環(huán)境下進行。離子遷移率譜儀(IMS Ion mobility spectrometer)主要由漂 移管以及外圍的氣路系統(tǒng)、電路系統(tǒng)組成，其中漂移管包括離化區(qū)、離子門、離子漂移區(qū)以 及法拉第盤等。在利用離子遷移率譜...
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