技術(shù)編號：6019249
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種測試方法及其點(diǎn)測機(jī)，尤其涉及一種多芯片的測試方法及其點(diǎn)測 機(jī)。背景技術(shù)發(fā)光二極管(LED)的技術(shù)日益成熟，應(yīng)用的領(lǐng)域也越來越廣，例如一般住宅所使 用的壁燈、輔助照明燈與庭園燈等，或者是運(yùn)用于顯示器的背光源。然而隨著發(fā)光二極管的快速成長，除了發(fā)光二極管本身具有的高亮度、高功率、較 長壽命等優(yōu)點(diǎn)，要如何維持發(fā)光二極管的質(zhì)量也相當(dāng)重要，因此發(fā)光二極管制造完成后，必 須檢測發(fā)光二極管的發(fā)光特性，以判斷發(fā)光二極管的質(zhì)量是否良好。發(fā)光二極管在制造時會成長...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。