技術(shù)編號：6025573
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及場效應(yīng)管電學(xué)特性測量，特別涉及一種場效應(yīng)管閾值電壓漂移測量方法。背景技術(shù)場效應(yīng)晶體管(Field Effect Transistor,簡稱場效應(yīng)管)的開啟和關(guān)閉由柵極信號控制。當(dāng)場效應(yīng)管長期處于工作狀態(tài)時(shí)，柵極偏壓的作用會導(dǎo)致場效應(yīng)管電學(xué)特性出現(xiàn)不穩(wěn)定，例如發(fā)生閾值電壓漂移。在場效應(yīng)管設(shè)計(jì)中要根據(jù)短期的閾值電壓漂移特性預(yù)測其能達(dá)到的工作壽命，此外，為改進(jìn)場效應(yīng)管制備エ藝，需要研究清楚場效應(yīng)管在柵極偏壓作用下產(chǎn)生閾值電壓漂移的機(jī)制，這都需要準(zhǔn)確地測...
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