技術(shù)編號：6043922
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種芯片自動測試裝置，包括測試區(qū)，所述測試區(qū)包括測試底軌、測試軌道蓋、測試阻擋結(jié)構(gòu)、測試壓緊機(jī)構(gòu)和用于測試的金手指，所述測試底軌和測試軌道蓋具有兩個位置傳輸位置和測試位置，在所述傳輸位置，所述測試區(qū)軌道用于接收所述芯片；所述測試底軌和測試軌道蓋在所述測試壓緊機(jī)構(gòu)的作用下可從傳輸位置移動到測試位置，在所述測試位置，所述金手指完成對所述芯片的自動測試。本發(fā)明提供的芯片自動測試裝置，金手指測試部分采用壓測方式，金手指測試座固定在下方面板上，通過上方壓塊...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。