技術(shù)編號(hào)：6045951
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及一種儀器分析樣品臺(tái)，尤其是一種X射線衍射儀樣品臺(tái)。背景技術(shù)目前X射線粉末衍射儀如布魯克D8_Advance系列衍射儀及其它品牌的衍射儀是利用測(cè)角儀樣品架上的三個(gè)觸點(diǎn)接觸樣品臺(tái)基準(zhǔn)平面，從而確定樣品測(cè)試面，測(cè)試過(guò)程中樣品臺(tái)不轉(zhuǎn)動(dòng)。廠家提供的淺槽樣品臺(tái)和微量樣品臺(tái)均為測(cè)試粉末的樣品臺(tái)，對(duì)紙張、金屬片等固體片狀樣品很難準(zhǔn)確測(cè)試，為此，很多儀器使用者都在自己開發(fā)制作固體塊狀、片狀樣品臺(tái)。布魯克DS-Advance等型號(hào)衍射儀利用測(cè)角儀樣品架上的三個(gè)觸...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。